JEDEC 发布首份全行业硅光子学可靠性标准 JESD264

JEDEC 固态技术协会发布 JESD264 硅光子学（SiPh）器件认证和可靠性要求，为硅光芯片及集成芯片组建立了测试与制造控制的通用基准。该标准明确了代工厂、外包封测与系统开发商的可靠性责任划分，并规定了装配工艺、激光集成与可追溯性要求，以支持硅光技术在高速数据中心、电信和 AI 网络中的规模化部署。