JEDEC发布首份全行业硅光子学可靠性标准JESD264

2026年10月5日，JEDEC固态技术协会发布了JESD264硅光子学（SiPh）器件认证和可靠性要求，这是首份全行业硅光子学可靠性标准。该标准为硅光芯片及集成芯片组建立了测试与制造控制的通用基准，明确划分了代工厂、外包封测与系统开发商的可靠性责任，并对装配工艺、激光集成及可追溯性作出了具体规定，以支持硅光技术在高速数据中心、电信和AI网络中的规模化部署。

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